供(gong)應 STIL位移(yi)傳感器、STIL輪(lun)廓儀(yi)----

供(gong)應(ying)STIL位移傳感器、STIL輪廓儀。

STIL位移傳感器、STIL輪廓儀(yi)公司簡介(jie)：

STIL位移傳感器、STIL輪廓儀公司成立于1993年，STIL位移傳感器、STIL輪廓儀是基于光譜共焦原理制成的一款高、精、度位移傳感器，分辨率可達到2nm。采樣率達100Hz-30KHz。常用于測透明物體的厚度，如測薄膜、玻璃、透明膠、透明液體。且可測多層厚度用于表面粗糙度分析、表面輪廓分析、劃痕測量、孔內徑測量應用廣，且精度高，不受表面材料的影響。STIL位移傳感器、STIL輪廓儀在三維非接觸式測量中有著前端的技 shu。 STIL位(wei)移傳感器、STIL輪廓儀(yi)基于穿新的光(guang)學(xue)原理，能(neng)夠測量任/何類型的材(cai)料，具(ju)有特/殊(shu)的(de)精/確/度。 STIL位移(yi)傳感器、STIL輪廓儀可應用(yong)在工業領域(yu)。計(ji)量(liang)或研究實(shi)驗室內，將(jiang)它作為(wei)高/精/密儀(yi)器，或者用作生產線的質量控制(zhi)工具。工業(ye)環境使用時，由(you)于 STIL的簡單的接口(kou)，能夠與測(ce)量和檢(jian)測(ce)設備集(ji)成。STIL位移傳感器、STIL輪廓儀(yi)可以完成以下方面的工作：

1.粗(cu)糙度測(ce)量：

STIL位移傳感器、STIL輪廓儀可測量幾個納 /米(mi)的(de)粗糙(cao)度(du)。獲取粗糙(cao)度(du)文(wen)件(jian)速度(du)比(bi)普(pu)通的(de)探針式快(kuai)很多，而且不(bu)會對表(biao)面造成劃痕(hen)的(de)風險。

2.輪廓&微觀形貌：STIL位移傳感器、STIL輪廓儀的3D掃描的接口，能夠滿 zu所(suo)you復(fu)雜(za)對象的 2D和3D測量。精度可達亞wei米機。

3.厚度測量：

STIL位移傳感器、STIL輪廓儀先 jin的光(guang)譜(pu)共焦成像原(yuan)理，通過使(shi)用一(yi)(yi)個單一(yi)(yi)的傳(chuan)感(gan)器(qi)就能測(ce)量透(tou)明材料的厚度(du)，而且具有很高的精度(du)。可以從樣品的一(yi)(yi)面直接測(ce)量。

4.水平面控制(zhi)：

由(you)于其(qi)非接觸技(ji)shu， STIL位移(yi)傳(chuan)感(gan)器、STIL輪廓儀(yi)可以(yi)檢測和測量液體的水平面。

5.振動：

由于高的測量(liang)頻率和納/米分辨率， STIL位移傳(chuan)感器(qi)、STIL輪廓儀傳(chuan)感器(qi)能夠(gou)測量振動對象。他們的非接觸式設計bi免了在(zai)測試(shi)時的干(gan)擾，并能(neng)測量和(he)分析難/以訪問的(de)區域(yu)。

6.生(sheng)產線檢測：

STIL位移傳感器、STIL輪廓儀能夠用應用于生產線系統控制，是由于其高的測量速率和先 /進的(de)接口與制造能力

產(chan)品范(fan)圍：

STIL控制器、STI L位移傳感器、 STIL輪廓儀、STIL非接觸位移傳感器、STIL光譜共焦位移傳感器、S TIL三維形貌(mao)測量儀、STIL光學筆、STIL光纖(xian)電纜

主要型(xing)號(hao)：

STIL Initial 系列：STIL Initial 0.4、STIL Initial E1.2、STIL Initial E1.2/90、STIL Initial 4.0、STIL Initial 12

CL2-MG140、ENDO 1.2、ENDO 1.2/90、CL4-MG35、CL5-MG35、MPLS 180、CHR150、CHR150-L、CL1-MG210、CL1-MG140、CL2-MG210、CL2-MG140、CL2-MG70、CL3-MG140、CL3-MG70、CL4-MG35、CL4-MG20、CL5-MG35、CL5-MG20、CL6-MG35、CL6-MG20、VCX50、VCX250