厚度測量(liang)

厚度測(ce)量(liang)(liang)有許多可能性(xing)，包(bao)括傳輸方法，超(chao)聲波(bo)和紅(hong)外傳感器以及光學三角測(ce)量(liang)(liang)原理(li)。

INDIAIR傳感器

測量(liang)系(xi)統由(you)上(shang)下傳(chuan)感器組成。后者是(shi)磁(ci)/渦流間隔系統，其確定到參考板的距離，參考板又是上傳感器的一部分。兩個傳感器之間的片材影響板的頂部和底部之間的距離，從而可以提供原始測量信號。

INDISPECTRO?

測量基于光(guang)(guang)學層(ceng)厚度與光(guang)(guang)波(bo)長的(de)比較。入射在透明(ming)層(ceng)上的(de)光(guang)(guang)在上界面和下界面處部分反(fan)射。

INDIRAY?標(biao)準X射線傳感器<5KV /擴(kuo)展范圍(wei)

紅(hong)外(wai)反向散射傳感器(qi)IREX-RS / CW /XCMONESPLIT?相同點技術

紅外傳(chuan)(chuan)感(gan)器通常作為反向散射傳(chuan)(chuan)感(gan)器提供，具體(ti)取決于應用(yong)，但也可以(yi)作為傳(chuan)(chuan)輸傳(chuan)(chuan)感(gan)器的結構。CONESPLIT?SameSpot技術基于**測量方法，用于直接（選擇性）在線涂層厚度測量，是BST ProControl**的賣點。

當通過透射(she)方法測量時，發射器和檢測器彼此相對安裝，待測材料置于其間。輻射被待測材料衰減，衰減取決于待測材料的密度，厚度和成分。

超聲波傳感(gan)器

傳感器根據脈沖回波測(ce)量(liang)方(fang)法工作，即發射(she)超聲脈沖，由測(ce)量(liang)對象反射(she)并再次接(jie)收。從脈沖的持(chi)續時(shi)間(jian)開(kai)始，測(ce)量(liang)物體的距離(li)被確定為傳感器。

激光(guang)傳感器

傳(chuan)感(gan)器基于三角測量方(fang)法。這里，聚焦紅外光(guang)束在待測材料上產生光(guang)點，其反射部分由傳(chuan)感(gan)器中的PSD / CCD檢測器檢測。檢測器的檢測允許***計算到待測材料的距離。

同(tong)位(wei)素(su)反向散射(she)傳感器

同位素反(fan)向散射(she)傳感器是用于基重測量的非接(jie)觸式(shi)測量方法。基于由待測材(cai)料反(fan)向散射(she)的放(fang)射(she)性(xing)輻射(she)部分，確定(ding)基重。

基于攝像頭的(de)傳感器

DELTA MASTER 3傳感器使(shi)用(yong)光學三角測(ce)(ce)(ce)量原理。可以通過將精(jing)細的(de)測(ce)(ce)(ce)量線投(tou)射到(dao)材料上并通過幾何超穩(wen)定的(de)矩(ju)陣(zhen)CCD相機進行檢測(ce)(ce)(ce)來(lai)測(ce)(ce)(ce)量表面。測(ce)(ce)(ce)量數(shu)據的(de)評(ping)估基于數(shu)字圖像處理的(de)方法。 

SHADEX傳感器

非接(jie)觸式測量(liang)原理基于線(xian)性(xing)扇出(chu)激光束的(de)***定義。產品的(de)厚(hou)度導致測量(liang)范圍內的(de)陰影，并且對接(jie)收二*管有成比例(li)的(de)影響。距離測量(liang)系統補償(chang)傳(chuan)感器和參考輥(gun)之間的(de)距離變(bian)化(hua)，由此在特殊信號處理方法(fa)中評估(gu)值，并且可以***地(di)確定材料厚(hou)度。

PC16S?波

發射傳感器PC16S ^? -wave措施的(de)基礎重量(liang)(liang)或(huo)厚(hou)度flachbahniger材料，并使(shi)(shi)用用于非(fei)接(jie)觸(chu)測量(liang)(liang)過程非(fei)電(dian)離(li)，電(dian)磁(ci)波。這使(shi)(shi)其成為***和快(kuai)速(su)測量(liang)(liang)聚(ju)合物基單膜的(de)理想選(xuan)擇。與(yu)基于電(dian)離(li)輻射的(de)傳(chuan)感(gan)(gan)器相比，該(gai)傳(chuan)感(gan)(gan)器***了運輸(shu)，操作(zuo)和處置所(suo)需的(de)國(guo)家或(huo)國(guo)際法規要求。

涂層厚度測量(liang)

在涂(tu)層厚度測(ce)量(liang)領域，除紅外(wai)傳感(gan)(gan)器(qi)和傳輸(shu)傳感(gan)(gan)器(qi)外(wai)，BST-ProControl還提供光學層厚度與光波長的比較。

密(mi)度測(ce)量(liang)

此外，在(zai)密度測(ce)量領域，非接觸式(shi)測(ce)量方法(fa)和用(yong)于(yu)直接（選擇(ze)性）在(zai)線(xian)涂層厚度測(ce)量的**方法(fa)也(ye)是合適的