1. 套件，由TOM-610測試表(biao)，CTM051測試表(biao)，測試電*構成(cheng)

2. 可用于檢(jian)測接(jie)地(di)阻抗，接(jie)地(di)點(dian)是否有EMI干(gan)擾，測試(shi)物體靜電電阻，直流高壓擊穿測試(shi)

3. 高電阻(zu)量程(cheng)：103 6 8~1013 6 8

4. 高電阻測試(shi)(shi)電壓（TOM610測試(shi)(shi)表）：10V，100V，500V，1000V

5. 低(di)電(dian)阻量程（CTM051測(ce)試(shi)表）：0.001 6 8~1999 6 8

6. 普通交流電壓量程（CTM051測試(shi)表）：0~250VAC/RMS值

7. 普通(tong)直流(liu)電壓(ya)量程（CTM051測試表）：0~350VDC

8.EMI干擾電壓量程（CTM051測試表(biao)）：10mV～5V（peak）；信號(hao)強度80dBµV～134dBµV，頻(pin)寬9kHz～450MHz

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